Page 169 - Spin Transport and Spintronics
P. 169

6.2 การออกแบบหัวอ่านข้อมูล                                                       171



                       ฉากกับทิศทางของสปิน ดังนี้


                                                                                −x/λ sdl ˆ
                                         m (x) = [m (∞) + [m (0) − m (∞)]e             ] b 1
                                           ∥           ∥         ∥        ∥
                                                                                   ˆ
                                        m ⊥,2 (x) = 2e −k 1 x  [ucos(k 2 x) − vsin(k 2 x)]b 2

                                                                                   ˆ
                                        m ⊥,3 (x) = 2e −k 1 x  [usin(k 2 x) + vcos(k 2 x)]b 3

                       6.2.3   การคำนวณค่าความต้านทานเชิงแม่เหล็ก



                             ในการออกแบบหัวอ่านข้อมูลจะอาศัยการพิจารณาแบบจำลองระดับอะตอมร่วมกับแบบจำลอง

                       การสะสมสปิน โดยแบบจำลองระดับอะตอมจะถูกใช้ในการจำลองโครงสร้างวัสดุและพิจารณาทิศทาง

                       ของแมกนีไทเซชันในชั้นวัสดุแต่ละชั้นของหัวอ่านข้อมูล จากนั้นแบบจำลองการสะสมสปินจะถูกนำ
                       มาใช้ในการพิจารณาพฤติกรรมการส่งผ่านสปินผ่านค่าการสะสมสปินและกระแสสปินที่ตำแหน่งต่างๆ

                       ในโครงสร้างวัสดุ และนำไปสู่การคำนวณค่าความต้านทานเชิงแม่เหล็กและอัตราส่วน MR ซึ่งเป็นค่าที่

                       แสดงถึงประสิทธิภาพการทำงานของหัวอ่านข้อมูล ในการพิจารณาค่าความต้านทานเชิงแม่เหล็กที่เกิด
                       ขึ้นที่ตำแหน่งต่างๆ ในโครงสร้างหัวอ่านข้อมูล จะต้องทำการแบ่งโครงสร้างวัสดุเป็นชั้นบางๆ จากนั้น

                       จะทำการคำนวณการสะสมสปินและกระแสสปินที่ตำแหน่งต่างๆ โดยพิจารณาจากแบบจำลองระดับ

                       อะตอมร่วมกับแบบจำลองการสะสมสปินซึ่งเป็นการพิจารณาคำตอบแบบ self-consistent solution

                       เนื่องจากในการคำนวณการสะสมสปินและกระแสสปินต้องทราบทิศทางเวกเตอร์หนึ่งหน่วยของแมกนี
                       ไทเซชันในชั้นวัสดุ และในการคำนวณทิศทางแมกนีไทเซชันจะต้องพิจารณาสนามเหนี่ยวนำเนื่องจาก

                       สปินทอร์คที่กระทำต่อแมกนีไทเซชันผ่านค่าการสะสมสปิน


                             ประสิทธิภาพของหัวอ่านข้อมูลสามารถพิจารณาผ่านค่าความต้านทานเชิงพื้นที่ RA และค่า
                       อัตราส่วน MR โดยค่าความต้านทานเชิงพื้นที่ของตำแหน่ง i ใดๆ (RA i) สามารถคำนวณได้จากความ

                       สัมพันธ์ของกระแสสปินและอัตราการเปลี่ยนแปลงต่อตำแหน่งของการสะสมสปิน (∆m) ดังนี้ [43,74,

                       76]



                                                              |∆m|V k BT
                                                                    cell
                                                       RA i =             ,                           (6.12)
                                                                  j m e 2

                       เมื่อ V cell  คือ ปริมาตรของไมโครเซลล์

                             j m คือ กระแสสปิน


                             e คือ ประจุของอิเล็กตรอน

                             โดยค่าความต้านานเชิงพื้นที่รวมที่เกิดขึ้นในโครงสร้างวัสดุสามารถคำนวณได้จากผลรวมของ
   164   165   166   167   168   169   170   171   172   173   174