Page 193 - Spin Transport and Spintronics
P. 193

7.3 ค่าคงที่ความหน่วงประสิทธิผล                                                  195






                           จากความสัมพันธ์เชิงเส้นของกราฟข้างต้น พบว่าสำหรับกรณีชั้นฟิล์มบาง ค่าแอนไอโซทรอปี
                           ประสิทธิผลจะเกิดจากค่าแอนไอโซทรอปีของชั้นรอยต่อเป็นหลักและมีค่าเป็นบวก ซึ่งทำให้

                           แมกนีไทเซชันมีการจัดเรียงตัวในทิศทางตั้งฉากกับระนาบของโครงสร้างวัสดุ ในกรณีชั้นฟิล์ม

                           หนา t CoFeB > 1.5 nm จะพบว่าสนามลบล้างสภาพความเป็นแม่เหล็กเป็นปัจจัยหลักที่ส่ง

                           ผลต่อค่าแอนไอโซทรอปีประสิทธิผล ซึ่งทำให้แมกนีไทเซชันมีการจัดเรียงตัวในแนวระนาบ
                           และค่า Kt CoFeB มีค่าเป็นลบเนื่องจากค่าสนามลบล้างความเป็นแม่เหล็กซึ่งเป็นปัจจัยหลักมี

                                                                              M
                                                                                2
                           ค่ามากกว่า K i และ K ดังนั้นประมาณค่าได้ว่า Kt CoFeB ≈ − t CoFeB เมื่อพิจารณาจุดตัด
                                                                                S
                                             b
                                                                              2µ 0
                           แกน y ของกราฟ จะได้ค่า K i = 1.3 mJ/m 2
                                 ในการประยุกต์ใช้โครงสร้างวัสดุ CoFeB-MgO จำเป็นต้องคำนึงถึงขนาดที่เหมาะสม
                           เนื่องจากขนาดของโครงสร้างส่งผลต่อคุณสมบัติทางแม่เหล็กที่มีค่าแตกต่างกัน โดยความ

                           หนาวิกฤตจะมีค่าอยู่ที่ประมาณ t CoFeB,crit ≈ 1.5 nm ซึ่งความหนาของชั้นวัสดุที่น้อยกว่าค่า
                           ความหนาวิกฤตจะทำให้เกิดค่าแอนไอโซทรอปีตั้งฉาก และมีความเหมาะสมในการนำไปประ

                           ยุต์ใช้กับเป็นหัวเขียนหรือหัวอ่านข้อมูลของหน่วยความจำเชิงแม่เหล็กที่มีค่าความจุข้อมูลสูง







                       7.3     ค่าคงที่ความหน่วงประสิทธิผล




                             ค่าคงที่ความหน่วงเป็นพารามิเตอร์ที่สำคัญในการออกแบบ STT-MRAM ด้วยแบบจำลองระดับ
                       อะตอมควบคู่กับแบบจำลองการส่งผ่านสปิน การเคลื่อนที่แบบหน่วงที่เกิดจากการเหนี่ยวนำของสปิน

                       ทอร์คเมื่อทำการป้อนกระแสไฟฟ้าภายนอกเข้าสู่โครงสร้างวัสดุจะมีทิศทางตรงกันข้าม (antidamping)

                       กับการเคลื่อนที่จากความหน่วงธรรมชาติของวัสดุ ส่งผลให้แมกนีไทเซชันสามารถเปลี่ยนแปลงทิศทาง

                       ได้ ในการออกแบบที่ดีจำเป็นต้องเลือกวัสดุที่มีค่าคงที่ความหน่วงที่ต่ำ เพื่อลดการใช้กระแสไฟฟ้าใน
                       การเขียนเพื่อเอาชนะความหน่วงธรรมชาติทำให้เกิดการกลับทิศทางแมกนีไทเซชัน นอกจากนี้ยังทำให้

                       สามารถออกแบบอุปกรณ์สปินทรอนิกส์ที่มีขนาดเล็กลงได้ ดังแสดงในสมการความสัมพันธ์ของกระแส

                       ไฟฟ้าวิกฤตซึ่งเป็นค่ากระแสไฟฟ้าที่น้อยที่สุดที่สามารถกลับทิศทางของแมกนีไทเซชันดังนี้

                                                               γe
                                                        I c = α   M S H k V                            (7.3)
                                                              µ B g
                       เมื่อ  α คือ ค่าคงที่ความหน่วง


                             γ คือ ค่าอัตราส่วน gyromagnetic


                             e คือ ค่าประจุของอิเล็กตรอน
   188   189   190   191   192   193   194   195   196   197   198